x-ray膜厚测试仪2000年前后,国内电子、通信行业的迅猛发展,带来电镀行业的广泛需求。应国际贸易和质量体系认证的需求,许多企业工厂纷纷购置了相关的镀层厚度检测仪器和设备,同时也带来镀层膜厚量值传递和溯源问题。当然,有些外资企业,通过仪器自带的标准器直接溯源到国外,而大部分企业部门,则处于自行封闭测量和不做量值溯源的状况,国家没有一个明确的量值传递体系,镀层膜厚的量值处于一种混乱的状态。
因此2005-2007年间经过购置相关测量设备和研制标准器及测量方法的研究，中国计量科学研究院首先建立了基于x射线荧光分析方法的镀层膜厚标准装置，用于镀层膜厚量值得测量和校准，为镀层膜厚量值的溯源提供了一种准确有效的技术方法。
x-ray膜厚测试仪整体描述：
美国BOWMAN X-RAY 設備遵循ASTM B568， DIN 50 987和ISO 3497 等國家和國際標準，主要基於鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統。採用全新數學計算方法,採用**的FP (Fundamental Parameter）強大的電腦功能 來進行鍍層厚度的計算，在加強的軟體功能之下，簡化了測量比較複雜鍍層的程式。
（1）、配置硬件革新：
采用半导体接收器，分辨率较传统品牌比例接收品提高数倍,较传统X-RAY精确度提高了50%以上， 在测试薄金（Au)方面表现更为突出。
（2）、超常保固期：2年（24个月），较其它品牌整机延长一倍；
（3）、前沿的测量技术：所有产品均为美国原装进口，
超低的售价：相对于其它品牌同档次的机型售价降低了50%
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